Interferometrisches Stehwellenmikroskop

EP3159729 Art B1 23. August 2023

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3159729
Aktenzeichen
EP16185525
Anmeldetag
24. August 2016
Veröffentlichung
23. August 2023
Erteilung
23. August 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G02B21/16G02B21/14// G02B21/00G02B27/58
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Optik & Fototechnik
Vertreten von
Ziermann, Oliver St. Wendel, Deutschland
225
Patente gesamt
19
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung Pharma & Biotechnologie Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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