Herstellung einer Kryogenen Probe für Ladungsteilchenmikroskop

EP3179229 Art B1 30. Januar 2019

Anmelder: FEI Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3179229
Aktenzeichen
EP15199462
Anmeldetag
11. Dezember 2015
Veröffentlichung
30. Januar 2019
Erteilung
30. Januar 2019
Rechtsraum
EP
IPC
G01N1/42A01N1/02F25D3/10
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI Company
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Janssen, Francis-Paul FEI Company · Inhouse Eindhoven, Niederlande
266
Patente gesamt
15
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Optik & Fototechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Elektrische Energietechnik
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