Feinnadelelastografievorrichtung und System zur Messung von Materialeigenschaften
EP3179921
Art B1
5. Oktober 2022
Anmelder: The Regents of the University of California, Gimzewski, James K., Sharma, Shivani, Wilkinson, Paul R., Ragavendra, Nagesh, Rao, Jianyu, Wickramaratne, M. Dayan J. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3179921
- Aktenzeichen
- EP15832136
- Anmeldetag
- 10. August 2015
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2022
- Erteilung
- 5. Oktober 2022
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B10/02A61B5/00// A61B5/06A61B10/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- The Regents of the University of California
Gimzewski, James K.
Sharma, Shivani
Wilkinson, Paul R.
Ragavendra, Nagesh
Rao, Jianyu
Wickramaratne, M. Dayan J. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
University of California
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Fachgebiete
Vertreten von
Teall, Charlotte
München, Deutschland
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Forresters IP LLP · München