Inspektionsendgeräteinheit, Sondenkarte und Verfahren zur Herstellungskontrolle der Inspektionsendgeräteinheit
EP3187883
Art A1
5. Juli 2017
Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3187883
- Aktenzeichen
- EP15836606
- Anmeldetag
- 5. August 2015
- Veröffentlichung
- 5. Juli 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/073G01R3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Omron Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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