Verfahren zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung und Vorrichtung zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung
EP3193161
Art B1
22. August 2018
Anmelder: JTEKT CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3193161
- Aktenzeichen
- EP17150077
- Anmeldetag
- 2. Januar 2017
- Veröffentlichung
- 22. August 2018
- Erteilung
- 22. August 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N25/72
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JTEKT CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JTEKT
Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.
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