Zweifrequenzmessvorrichtung umfassend einen Oberflächenwellensensor mit Verzögerungsleitung

EP3225985 Art B1 24. Oktober 2018

Anmelder: Tohoku University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3225985
Aktenzeichen
EP15863626
Anmeldetag
26. November 2015
Veröffentlichung
24. Oktober 2018
Erteilung
24. Oktober 2018
Rechtsraum
EP
IPC
G01N29/02G01N29/24G01N29/42G01N29/44H01L41/04H01L41/113G01N29/34G01N29/36
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Tohoku University
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tohoku University

Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.

2.166 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen