Verfahren zur Schätzung eines Beschädigungsniveaus oder einer Lebensdauererwartung eines Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Chip

EP3226014 Art B1 10. Januar 2024

Anmelder: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V., Mitsubishi Electric Corporation 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3226014
Aktenzeichen
EP16162868
Anmeldetag
30. März 2016
Veröffentlichung
10. Januar 2024
Erteilung
10. Januar 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
Mitsubishi Electric Corporation
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 Mitsubishi Electric R&D Centre Europe

Niederländische Forschungs- und Entwicklungseinrichtung des japanischen Mitsubishi-Electric-Konzerns. Betreibt technologische Forschung für Elektronik-, Kommunikations- und Automatisierungslösungen für den europäischen Markt.

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