Verfahren zur Schätzung eines Beschädigungsniveaus oder einer Lebensdauererwartung eines Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Chip
EP3226014
Art B1
10. Januar 2024
Anmelder: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V., Mitsubishi Electric Corporation 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3226014
- Aktenzeichen
- EP16162868
- Anmeldetag
- 30. März 2016
- Veröffentlichung
- 10. Januar 2024
- Erteilung
- 10. Januar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.
Mitsubishi Electric Corporation - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Mitsubishi Electric R&D Centre Europe
Niederländische Forschungs- und Entwicklungseinrichtung des japanischen Mitsubishi-Electric-Konzerns. Betreibt technologische Forschung für Elektronik-, Kommunikations- und Automatisierungslösungen für den europäischen Markt.
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🇯🇵
Mitsubishi Electric
Japanisches Unternehmen, das Elektro- und Elektroniktechnik entwickelt und herstellt, darunter Automatisierung, Energie-, Klima- und Fahrzeugtechnik.
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