Röntgeninspektionssystem zum Abtasten eines Objekts

EP3242315 Art B1 9. August 2023

Anmelder: Rapiscan Systems, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3242315
Aktenzeichen
EP17175557
Anmeldetag
31. Januar 2013
Veröffentlichung
9. August 2023
Erteilung
9. August 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/04G01V5/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Rapiscan Systems, Inc.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Wilson, Alan Stuart Warwick, Großbritannien
688
Patente gesamt
34
Fachgebiete
21
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Medizintechnik & Gesundheit Nachrichtentechnik & Telekommunikation Halbleiter & Elektrische Bauelemente Maschinenelemente & Fluidtechnik
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