Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Zwei Geladenen Teilchenstrahlen und in Situ-Abscheidungsfunktionalität
EP3249676
Art B1
3. Oktober 2018
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3249676
- Aktenzeichen
- EP16171645
- Anmeldetag
- 27. Mai 2016
- Veröffentlichung
- 3. Oktober 2018
- Erteilung
- 3. Oktober 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/28H01J37/34C23C14/35
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Weitere Vertreter
-
Bakker, Hendrik
NoneEindhoven