Halbleiterbauelement
Anmelder: Rohm Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3276830
- Aktenzeichen
- EP17183557
- Anmeldetag
- 27. Juli 2017
- Veröffentlichung
- 16. Dezember 2020
- Erteilung
- 16. Dezember 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03K17/0812
Abstract
A semiconductor device includes a first overvoltage detection unit including a first comparator arranged to output a first detection signal based on a first divided voltage after dividing an output voltage of a power supply circuit by first resistors disposed externally and a second overvoltage detection unit including second resistors and a second comparator arranged to output a second detection signal based on a second divided voltage after dividing the output voltage by the second resistors.
Anmelder
- Firma
- Rohm Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kyoto, spezialisiert auf integrierte Schaltkreise, diskrete Halbleiterbauelemente und Leistungshalbleiter (unter anderem Siliziumkarbid-Bauteile).
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Isarpatent
Isarpatent · München