Halbleiterbauelement

EP3276830 Art B1 16. Dezember 2020

Anmelder: Rohm Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3276830
Aktenzeichen
EP17183557
Anmeldetag
27. Juli 2017
Veröffentlichung
16. Dezember 2020
Erteilung
16. Dezember 2020
Rechtsraum
EP
IPC
H03K17/0812
Offizieller Volltext

Abstract

A semiconductor device includes a first overvoltage detection unit including a first comparator arranged to output a first detection signal based on a first divided voltage after dividing an output voltage of a power supply circuit by first resistors disposed externally and a second overvoltage detection unit including second resistors and a second comparator arranged to output a second detection signal based on a second divided voltage after dividing the output voltage by the second resistors.

Anmelder

Firma
Rohm Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Rohm

Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kyoto, spezialisiert auf integrierte Schaltkreise, diskrete Halbleiterbauelemente und Leistungshalbleiter (unter anderem Siliziumkarbid-Bauteile).

2.771 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen