Verfahren zur Unterstützung der Analyse eines Strahlungsbildes und System mit Verwendung davon
EP3327470
Art A1
30. Mai 2018
Anmelder: Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3327470
- Aktenzeichen
- EP17201175
- Anmeldetag
- 10. November 2017
- Veröffentlichung
- 30. Mai 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01V5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nuctech Company Limited
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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