System zur Überwachung der Integrität des Rands eines Dies und Zugehöriges Verfahren

EP3327756 Art B1 6. November 2019

Anmelder: Melexis Technologies NV 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3327756
Aktenzeichen: EP16200471
Anmeldetag: 24. November 2016
Veröffentlichung: 6. November 2019
Erteilung: 6. November 2019
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/66H01L23/64H01L23/66G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Melexis Technologies NV
Land: 🇧🇪 Belgien

🇨🇭 Melexis Technologies

Halbleiterunternehmen mit belgischen Wurzeln und Schweizer Sitz, entwickelt integrierte Sensor- und Treiberschaltkreise für Automobil- und Industrieelektronik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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