Halbleiterbauelement mit Schaltungen mit Sicherheitsfunktion

EP3336887 Art A1 20. Juni 2018

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, National Institute Of Advanced Industrial Science 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3336887
Aktenzeichen: EP16835047
Anmeldetag: 3. August 2016
Veröffentlichung: 20. Juni 2018
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/822H01L21/82H01L27/04H04L9/32H01L23/522H01L23/535H01L23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
National Institute Of Advanced Industrial Science
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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