Omnidirektionale Streuungs- und Bidirektionale Phasensensibilität mit Single-Shot-Gitterinterferometrie
EP3341714
Art B1
16. September 2020
Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3341714
- Aktenzeichen
- EP16745651
- Anmeldetag
- 20. Juli 2016
- Veröffentlichung
- 16. September 2020
- Erteilung
- 16. September 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/041G01N23/201G01N23/207A61B6/03G02B5/18G21K1/06A61B6/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Paul Scherrer Institut
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
PAUL Scherrer Institut
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
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