Raster-Elektronenmikroskop

EP3367418 Art B1 9. Dezember 2020

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3367418
Aktenzeichen: EP18158061
Anmeldetag: 22. Februar 2018
Veröffentlichung: 9. Dezember 2020
Erteilung: 9. Dezember 2020
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/244H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von