Fördervorrichtung für Probenrack und Automatisches Analysesystem
EP3396387
Art A1
31. Oktober 2018
Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3396387
- Aktenzeichen
- EP16878378
- Anmeldetag
- 8. Dezember 2016
- Veröffentlichung
- 31. Oktober 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N35/04G01N35/00G01N35/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Jeol Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
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