Optisches Verfahren zur Messung der Dicke von auf Substraten Aufgetragenen Beschichtungen

EP3400431 Art B1 23. März 2022

Anmelder: Arkema, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3400431
Aktenzeichen
EP17736209
Anmeldetag
4. Januar 2017
Veröffentlichung
23. März 2022
Erteilung
23. März 2022
Rechtsraum
EP
IPC
G01B11/06
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Arkema, Inc.
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Gorintin, Sarah Colombes, Frankreich
74
Patente gesamt
19
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Kunststoff- & Polymertechnik Farben, Klebstoffe & Brennstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente Anorganische Chemie & Werkstoffe Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Organische Chemie
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