Elektronenmikroskop und Steuerungsverfahren

EP3401942 Art A1 14. November 2018

Anmelder: Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3401942
Aktenzeichen: EP18171519
Anmeldetag: 9. Mai 2018
Veröffentlichung: 14. November 2018
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/22H01J37/28G06T7/11G06T7/136

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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