Vorrichtung zur Erkennung von Rissinformationen, Verfahren zur Erkennung von Rissinformationen und Programm zur Erkennung von Rissinformationen

EP3410102 Art B1 6. Juli 2022

Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3410102
Aktenzeichen: EP17743930
Anmeldetag: 11. Januar 2017
Veröffentlichung: 6. Juli 2022
Erteilung: 6. Juli 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/88G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: FUJIFILM Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von