Defektdetektionsvorrichtung, Defektdetektionsverfahren und Programm
EP3418726
Art A1
26. Dezember 2018
Anmelder: SCREEN Holdings Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3418726
- Aktenzeichen
- EP17752875
- Anmeldetag
- 18. Januar 2017
- Veröffentlichung
- 26. Dezember 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G06T1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SCREEN Holdings Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
SCREEN Holdings
Japanischer Technologiekonzern. SCREEN Holdings stellt Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie her, insbesondere Wafer-Reinigungs- und Beschichtungssysteme, sowie Druck- und Bildverarbeitungstechnik.
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