Interferometer zur Superaufgelösten Raman-Mikroskopie

EP3421977 Art A1 2. Januar 2019

Anmelder: Universiteit Gent, IMEC VZW 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3421977
Aktenzeichen: EP17178673
Anmeldetag: 29. Juni 2017
Veröffentlichung: 2. Januar 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/65G01J3/44G02B21/00// G01N21/84

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Universiteit Gent
IMEC VZW
Land: 🇧🇪 Belgien

🇧🇪 Ghent University

Belgische Universität in Gent, betreibt Lehre und Forschung in einem breiten Spektrum wissenschaftlicher und technischer Disziplinen.

1.108 Patente in unserer Datenbank

🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.629 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von