Verfahren zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung und Vorrichtung zur Optischen Zerstörungsfreien Prüfung

EP3431972 Art B1 15. Juni 2022

Anmelder: JTEKT CORPORATION, JTEKT Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3431972
Aktenzeichen: EP18183718
Anmeldetag: 16. Juli 2018
Veröffentlichung: 15. Juni 2022
Erteilung: 15. Juni 2022
Rechtsraum: EP
IPC: H01L21/66G01N25/72H01L23/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: JTEKT CORPORATION
JTEKT Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JTEKT

Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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