Verfahren und Mikroskop zum Untersuchen einer Probe

EP3440492 Art B1 12. März 2025

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3440492
Aktenzeichen: EP17717127
Anmeldetag: 7. April 2017
Veröffentlichung: 12. März 2025
Erteilung: 12. März 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von