Optisches Rastermikroskop und Untersuchungsverfahren
EP3455663
Art A1
20. März 2019
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3455663
- Aktenzeichen
- EP17723981
- Anmeldetag
- 12. Mai 2017
- Veröffentlichung
- 20. März 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00A61F5/01G02B21/16G02B27/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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