Scatterometer und Verfahren zur Scatterometrie mittels Akustischer Strahlung

EP3474074 Art A1 24. April 2019

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3474074
Aktenzeichen
EP17196893
Anmeldetag
17. Oktober 2017
Veröffentlichung
24. April 2019
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G01N29/04G01N29/06
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen