Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Referenz-Fokuslage eines Strahles einer Strahlbasierten Werkzeugmaschine durch Durchführen einer Sequenz von Testschnitten an einem Werkstück

EP3475025 Art B1 28. Juli 2021

Anmelder: Trumpf Laser- und Systemtechnik GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3475025
Aktenzeichen
EP17732873
Anmeldetag
21. Juni 2017
Veröffentlichung
28. Juli 2021
Erteilung
28. Juli 2021
Rechtsraum
EP
IPC
B23K37/02B23K37/04B23K26/03B23K26/04B23K26/08B23K26/38B23K31/12
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Trumpf Laser- und Systemtechnik GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Trumpf Laser- und Systemtechnik

Der Anmelder ist eine deutsche Gesellschaft des Maschinenbaukonzerns Trumpf mit Fokus auf Lasertechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Fertigungs- und Drucktechnik, ergänzt durch Kunststofftechnik, Optik und Halbleiterbauelemente. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

440 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen