Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Referenz-Fokuslage eines Strahles einer Strahlbasierten Werkzeugmaschine durch Durchführen einer Sequenz von Testschnitten an einem Werkstück
EP3475025
Art B1
28. Juli 2021
Anmelder: Trumpf Laser- und Systemtechnik GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3475025
- Aktenzeichen
- EP17732873
- Anmeldetag
- 21. Juni 2017
- Veröffentlichung
- 28. Juli 2021
- Erteilung
- 28. Juli 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B23K37/02B23K37/04B23K26/03B23K26/04B23K26/08B23K26/38B23K31/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Trumpf Laser- und Systemtechnik GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Trumpf Laser- und Systemtechnik
Der Anmelder ist eine deutsche Gesellschaft des Maschinenbaukonzerns Trumpf mit Fokus auf Lasertechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Fertigungs- und Drucktechnik, ergänzt durch Kunststofftechnik, Optik und Halbleiterbauelemente. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.
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