Interferenzspektrometer und Zweistrahliges Interferometer

EP3537120 Art A1 11. September 2019

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3537120
Aktenzeichen: EP19160895
Anmeldetag: 5. März 2019
Veröffentlichung: 11. September 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G01J3/45G01J3/453

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von