Bildinspektionsvorrichtung, Bildinspektionsverfahren und Bildinspektionsprogramm

EP3540414 Art B1 13. November 2024

Anmelder: OMRON Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3540414
Aktenzeichen
EP19151768
Anmeldetag
15. Januar 2019
Veröffentlichung
13. November 2024
Erteilung
13. November 2024
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/95G01N21/88B25J9/16G01B11/24// G01N21/952G01N21/954
Offizieller Volltext

Abstract

An image inspection device (1, 1A) which inspects the inspection target (4) by images includes: an imaging part (2), which images the inspection target; a changing part (3R), which makes the location of the inspection target with respect to the imaging part periodically and relatively change; and a control part (9), which makes the imaging part image the inspection target so as to acquire a plurality of images having different imaging conditions at a plurality of timings which is periodically repeated due to the relative changes and at which the inspection target is in a predefined location with respect to the imaging part.

Anmelder

Firma
OMRON Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Kanzlei
Wagner & Geyer München, Deutschland

Wagner & Geyer wurde 1972 von Karl H. Wagner in München gegründet und fusionierte 1983 mit Dr. Ulrich F. Geyer. Neben Patenten begleitet die Kanzlei Designs, Gebrauchsmuster und Marken im internationalen Partnernetzwerk und berät traditionell eng mit japanischen Mandanten auf Deutsch, Englisch und Japanisch.

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