Röntgenstrahldiffraktionsvorrichtung

EP3543684 Art B1 22. April 2020

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3543684
Aktenzeichen
EP19154959
Anmeldetag
1. Februar 2019
Veröffentlichung
22. April 2020
Erteilung
22. April 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/20G01N23/20008
Offizieller Volltext

Abstract

An X-ray diffraction apparatus includes: an X-ray source 110; a first incident path letting the generated X-ray beam pass therethrough; a second incident path letting the generated X-ray beam be reflected by a multilayer film mirror and letting the reflected X-ray beam pass therethrough in parallel with the X-ray beam having passed through the first incident path; a movement mechanism moving the X-ray source 110, the first incident path, and the second incident path while preserving respective relative positions thereof; an incident slit 160 letting an X-ray beam to be incident on a sample S pass therethrough; and a sample support stage 165 supporting the sample S at a position fixed relative to the incident slit 160.

Anmelder

Firma
Rigaku Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

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Kanzlei
V. Füner Ebbinghaus Finck Hano München, Deutschland

Seit über 50 Jahren nahe dem Europäischen Patentamt in München tätig, deutscher Kern der EUROMARKPAT-Gruppe. Eigene Büros in Russland, der Ukraine und weiteren Ländern Osteuropas und Eurasiens ermöglichen direkte Vertretung ohne lokale Kanzleien.

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