Systeme, Verfahren und Vorrichtungen zur Breitenbasierten Analyse von Spitzenspuren

EP3545296 Art B1 25. Juni 2025

Anmelder: Board of Regents, The University of Texas System, Dionex Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3545296
Aktenzeichen: EP17874213
Anmeldetag: 28. November 2017
Veröffentlichung: 25. Juni 2025
Erteilung: 25. Juni 2025
Rechtsraum: EP
IPC: G01N30/02G01N30/38G01N30/86

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Board of Regents, The University of Texas System
Dionex Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 University of Texas System

US-amerikanischer Universitätsverbund mit Sitz in Austin, Texas, bestehend aus mehreren Hochschulen und medizinischen Zentren. Der University of Texas System ist in Forschung zu Medizin, Naturwissenschaften, Ingenieurwesen und Biotechnologie aktiv.

2.504 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von