Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Leuchtzuständen von Strahlungsquellen

Details

Veröffentlichungs-Nr.

EP3561465

Aktenzeichen

EP18169669

Anmeldetag

26. April 2018

Veröffentlichung

23. Dezember 2020

Erteilung

23. Dezember 2020

Rechtsraum

EP

IPC

G01J1/42G01J1/58G01J1/16G01J1/04

Abstract

Ein Verfahren zur Detektion aktiver Leuchtzustände von Strahlungsquellen umfasst die für einen jeweiligen aktiven Leuchtzustand einer jeweiligen Strahlungsquelle zumindest einmal durchzuführende Einlernschritte sowie für die Detektion des jeweiligen aktiven Leuchtzustands der jeweiligen Strahlungsquelle, insbesondere fortlaufend, durchzuführenden Messschritte. Die Einlernschritte umfassen: dass bei in den aktiven Leuchtzustand versetzter Strahlungsquelle ein erster zeitlicher Referenzverlauf der Intensität von auf den Strahlungssensor treffender Strahlung mittels eines Strahlungssensors erfasst wird: dass bei in einen inaktiven Leuchtzustand versetzter Strahlungsquelle ein zweiter zeitlicher Referenzverlauf der Intensität von auf den Strahlungssensor treffender Strahlung mittels des Strahlungssensors erfasst wird; dass durch Transformieren des ersten Referenzverlaufs in die Frequenzdomäne ein erstes Referenzspektrum ermittelt wird und durch Transformieren des zweiten Referenzverlaufs in die Frequenzdomäne ein zweites Referenzspektrum ermittelt wird; dass ein Differenzspektrum als Differenz des ersten Referenzspektrums und des zweiten Referenzspektrums ermittelt wird; dass basierend auf dem Differenzspektrum ein Band-Pass-Filter ermittelt wird; dass eine erste Referenzintensität als Mittelwert des ersten Referenzverlaufs ermittelt wird und eine zweite Referenzintensität als Mittelwert des zweiten Referenzverlaufs ermittelt wird; und dass basierend auf der ersten Referenzintensität und der zweiten Referenzintensität eine Schaltschwelle festgelegt wird. Die Messschritte umfassen: dass mittels des Strahlungssensors ein zeitlicher Messverlauf der Intensität von auf den Strahlungssensor treffender Strahlung erfasst wird; dass der Messverlauf mittels des Band-Pass-Filters gefiltert wird; und dass der gefilterte Messverlauf anhand der Schaltschwelle ausgewertet wird.

Anmelder

Firma

SICK AG

Land

🇩🇪 Deutschland

Fachgebiete