Beobachtungsverfahren und Objektträger

EP3570086 Art B1 4. Januar 2023

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3570086
Aktenzeichen: EP19174207
Anmeldetag: 13. Mai 2019
Veröffentlichung: 4. Januar 2023
Erteilung: 4. Januar 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/26G02B21/34H01J37/20H01J37/26G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

Vertreten von