Verdeckte Fehlererkennung und Epe-Schätzung auf Basis der Extrahierten 3D-Informationen aus E-Beam-Bildern
EP3594750
Art A1
15. Januar 2020
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3594750
- Aktenzeichen
- EP18182602
- Anmeldetag
- 10. Juli 2018
- Veröffentlichung
- 15. Januar 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20G03F1/84G03F1/86G06T7/00G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Peters, John Antoine
Veldhoven, Niederlande
167
Patente gesamt
11
Fachgebiete
1
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
ASML Netherlands B.V
ASML Netherlands B.V · Veldhoven