System für Rastersondenmikroskopieanwendungen und Verfahren zur Herstellung des Besagten Systems

EP3623821 Art A1 18. März 2020

Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3623821
Aktenzeichen: EP18382665
Anmeldetag: 14. September 2018
Veröffentlichung: 18. März 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01Q60/06G01Q70/18G01Q60/08

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Land: 🇪🇸 Spanien

🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.

1.355 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von