Testsystem mit Eingebettetem Tester
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3660526
- Aktenzeichen
- EP19209821
- Anmeldetag
- 18. November 2019
- Veröffentlichung
- 10. Juli 2024
- Erteilung
- 10. Juli 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185G01R31/319G01R31/3187
Abstract
A test system is provided. The test system includes a printed circuit board (PCB) and a plurality of integrated circuits (ICs) mounted on the PCB. A first IC of the plurality includes a first test circuit having a first test access port (TAP) controller. A second IC of the plurality includes a second test circuit having a second TAP controller and an embedded tester having a test data output coupled to a test data input of the first TAP controller by way of a link circuit. The embedded tester is configured to provide test control signals to the first TAP controller and the second TAP controller.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
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Lee, Candice Jane
NXP SEMICONDUCTORS · Redhill