Verfahren zur Bewertung der Stärke einer Implantatinstallation, Vorrichtung zur Bewertung der Stärke einer Implantatinstallation und Programm
EP3682842
Art B1
1. Mai 2024
Anmelder: Keio University, National Institutes for Quantum Science and Technology, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3682842
- Aktenzeichen
- EP18856270
- Anmeldetag
- 13. September 2018
- Veröffentlichung
- 1. Mai 2024
- Erteilung
- 1. Mai 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61C8/00A61F2/28A61F2/30A61C19/04A61B5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Keio University
National Institutes for Quantum Science and Technology
National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Keio University
Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.
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Richly & Ritschel Patentanwälte PartG mbB
Richly & Ritschel Patentanwälte PartG mbB · Bergisch Gladbach