Beobachtungsverfahren, Bildverarbeitungsvorrichtung und Elektronenmikroskop

EP3699668 Art B1 7. September 2022

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3699668
Aktenzeichen: EP20156937
Anmeldetag: 12. Februar 2020
Veröffentlichung: 7. September 2022
Erteilung: 7. September 2022
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/36G02B21/10H01J37/26G01N1/28G01N1/30B82Y30/00G06V10/24G06V20/69H01J37/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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