System und Verfahren zur Kompensation der Nichtlinearen Antwortcharakteristik in der Phasenverschiebungsdeflektometrie

EP3745084 Art A1 2. Dezember 2020

Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3745084
Aktenzeichen: EP18902666
Anmeldetag: 14. August 2018
Veröffentlichung: 2. Dezember 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01B11/25G01B9/02G06F17/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Research Institute of Standards and Science
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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