Verfahren zur Untersuchung einer Probe unter Verwendung eines Ladungsteilchenmikroskops mit Erfassung eines Elektronenenergieverlust- (eels) Spektrums
EP3751595
Art A1
16. Dezember 2020
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3751595
- Aktenzeichen
- EP19180167
- Anmeldetag
- 14. Juni 2019
- Veröffentlichung
- 16. Dezember 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22G01N23/2251H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Weitere Vertreter
-
Janssen, Francis-Paul
FEI Company · Eindhoven