Robinson, Louise Frances
Inhouse FEI Company
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5602 Eindhoven
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Patente
31 gesamt| Patent | |||
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25.02.2026 · FEI Company
Aktuatorassistierte Positionierungssysteme und -Verfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.03.2020
Erteilt am 25.02.2026
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
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14.01.2026 · FEI COMPANY
Verfahren zur Erzeugung einer Probe zur Verwendung in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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14.01.2026 · FEI Company
Verfahren zur Zeitaufgelösten Ladungsträgerteilchenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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07.01.2026 · FEI Company
Ladungspartikelmikroskop mit Manipulatorvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe mit Diesem Ladungspartikelmikroskop
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.08.2018
Erteilt am 07.01.2026
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
The invention relates to a charged particle microscope (CPM) comprising a sample holder, for holding a sample; an ion beam column, for producing an ion beam that propagates along an ion axis onto said sample for creating a lamella in said sample; and a detector, for detecting radiation emanating from said lamella and/or said sample in response to irradiation by said ion beam. The CPM comprises a controller for at least partially controlling operation of said microscope. According to the invention, a manipulator device is provided that is arranged for transferring said lamella created in said sample out of said sample, wherein said manipulator device comprises a first elongated manipulator member with a first outer end, and a second elongated manipulator member with a second outer end. The outer ends are movable for mechanically gripping and releasing said lamella. In embodiments, the elongated manipulator members comprise off-set parts that increase manoeuvrability (accessibility) and monitorability of the manipulator device during use. |
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07.01.2026 · FEI COMPANY
Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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24.12.2025 · FEI COMPANY
Vorrichtung zur Vorbereitung von Proben für ein Kryoelektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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17.12.2025 · Dionex Corporation
Hyperverzweigte Anionenaustauscher aus Latex
Verfahrens- & Trenntechnik
Kunststoff- & Polymertechnik
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Zusammenfassung
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29.10.2025 · Dionex Corporation
Einweg-Dünnschicht-Platin-Wasserstoff-Referenzelektrode
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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29.10.2025 · Dionex Corporation
Platinelektrodensystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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15.10.2025 · FEI COMPANY
Verfahren zur Erzeugung einer Serie von Kippbildern einer Probe in mehreren Neigungswinkeln
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.04.2024
Anhängig
Vertretung
Robinson, Louise Frances · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
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Vertretene Patentanmelder
Die Patentanmelder, die Robinson, Louise Frances in den erfassten Patenten am häufigsten vertritt.
| Anmelder | Anzahl Patente |
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| 1. FEI Company | 22 |
| 2. Thermo Finnigan | 1 |
Patente nach Jahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung: so viele Anmeldungen sind für das Jahr insgesamt zu erwarten.