Röntgenanalysesystem und Röntgenanalyseverfahren

EP3757557 Art B1 5. Juli 2023

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3757557
Aktenzeichen: EP20177578
Anmeldetag: 29. Mai 2020
Veröffentlichung: 5. Juli 2023
Erteilung: 5. Juli 2023
Rechtsraum: EP
IPC: G01N23/2252G01N23/2209

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von