Elektronenmikroskop und Verfahren zur Beobachtung einer Messprobe

EP3757558 Art A1 30. Dezember 2020

Anmelder: The University of Tokyo 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3757558
Aktenzeichen: EP19757961
Anmeldetag: 18. Februar 2019
Veröffentlichung: 30. Dezember 2020
Rechtsraum: EP
IPC: G01N23/227G02B21/00H01J37/285// G01R31/265

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: The University of Tokyo
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 University of Tokyo

Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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