Verfahren zur Bildung von Abstandhaltern für einen Transistor

EP3764390 Art B1 1. November 2023

Anmelder: Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives, Centre National de la Recherche Scientifique, Université Grenoble Alpes 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3764390
Aktenzeichen
EP20185199
Anmeldetag
10. Juli 2020
Veröffentlichung
1. November 2023
Erteilung
1. November 2023
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/311H01L29/66
Offizieller Volltext

Abstract

According to one aspect, a method for forming spacers on a gate pattern is provided comprising: - Deposition of a first dielectric layer comprising basal portions on the active layer and lateral portions on the flanks of the pattern, - Anisotropic modification of only the basal portions of this first layer, so as to obtain modified basal portions. - Deposition of a second dielectric layer on the first layer, also comprising basal and lateral portions, - Anisotropic etching of only the basal portions of this second layer, so as to eliminate these basal portions while retaining the lateral portions, - Removing the modified basal portions while retaining the unmodified first and second lateral portions, by selective etching of the modified dielectric material with respect to the unmodified dielectric material. - A preferred field of application concerns the production of FinFET or FDSOI transistors.

Anmelder

Firmen
Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives
Centre National de la Recherche Scientifique
Université Grenoble Alpes
Land
🇫🇷 Frankreich
🇫🇷 CEA (Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives)

Französisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Paris (Verwaltung) und Standorten wie Grenoble und Saclay. Forscht in Kernenergie, erneuerbaren Energien, Mikroelektronik, Werkstoffwissenschaften, Verteidigungstechnik und Informationstechnologien.

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