Verfahren zum Kennzeichnen von Substraten basierend auf Prozessparametern

EP3785077 Art B1 4. Mai 2022

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3785077
Aktenzeichen
EP19708314
Anmeldetag
4. März 2019
Veröffentlichung
4. Mai 2022
Erteilung
4. Mai 2022
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/20G05B19/418
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen