Steuerverfahren für Elektronenmikroskop und Elektronenmikroskop

EP3792953 Art B1 29. Dezember 2021

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3792953
Aktenzeichen
EP20195345
Anmeldetag
9. September 2020
Veröffentlichung
29. Dezember 2021
Erteilung
29. Dezember 2021
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/26H01J37/24
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen