Verfahren zur Fragmentierung oder Verfahren zur Herstellung von Rissen in einem Halbleiterrohstoff und Verfahren zur Herstellung einer Masse aus Halbleiterrohstoff
EP3819031
Art A1
12. Mai 2021
Anmelder: High-Purity Silicon Corporation, Mitsubishi Materials Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3819031
- Aktenzeichen
- EP19830553
- Anmeldetag
- 3. Juli 2019
- Veröffentlichung
- 12. Mai 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B02C19/18B02C19/00B02C23/36C30B15/00C30B29/06H01L21/304C30B35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- High-Purity Silicon Corporation
Mitsubishi Materials Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Mitsubishi Materials
Japanisches Unternehmen der Mitsubishi-Gruppe mit Sitz in Tokio, tätig in der Verarbeitung von Metallen und Werkstoffen, unter anderem Kupfer, Zement, Hartmetallwerkzeuge und elektronische Materialien.
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Vertreten von
-
Plasseraud IP
Plasseraud IP · Paris