Vorrichtung zur Analyse von Kristallinem Material, Verfahren zur Analyse von Kristallinem Material und Programm zur Analyse von Kristallinem Material
EP3863020
Art A1
11. August 2021
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3863020
- Aktenzeichen
- EP21152198
- Anmeldetag
- 18. Januar 2021
- Veröffentlichung
- 11. August 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G16C20/80G16C60/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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