Analyseverfahren und Röntgenfluoreszenzanalysator

EP3885758 Art B1 6. August 2025

Anmelder: JEOL Ltd., Jeol Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3885758
Aktenzeichen
EP21161439
Anmeldetag
9. März 2021
Veröffentlichung
6. August 2025
Erteilung
6. August 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/223
Offizieller Volltext

Abstract

An analysis method using an X-ray fluorescence analyzer (100) is provided in which an X-ray spectrum is acquired by detecting a secondary X-ray emitted from a specimen (S) when the specimen (S) is irradiated with a primary X-ray. The analysis method includes: acquiring a first X-ray spectrum obtained, with a take-off angle of the secondary X-ray being set as a first take-off angle; acquiring a second X-ray spectrum obtained, with a take-off angle of the secondary X-ray being set as a second take-off angle that is different from the first take-off angle; and obtaining information on an element in a depth direction of a specimen (S) based on the first X-ray spectrum and the second X-ray spectrum.

Anmelder

Firmen
JEOL Ltd.
Jeol Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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