Kompakte Beugungsbegrenzte Nahinfrarot (nir)-Spektrometer
EP3886677
Art B1
28. Februar 2024
Anmelder: Leica Microsystems Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3886677
- Aktenzeichen
- EP19821390
- Anmeldetag
- 22. November 2019
- Veröffentlichung
- 28. Februar 2024
- Erteilung
- 28. Februar 2024
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B5/00G01J3/45G01J3/28G01J3/18G01J3/02G01B9/02A61B3/10G01B9/02091
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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