Verfahren zur Automatischen Positionsermittlung auf einer Probenanordnung und Entsprechendes Mikroskop

EP3891545 Art B1 28. Januar 2026

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP3891545
Aktenzeichen: EP19817225
Anmeldetag: 4. Dezember 2019
Veröffentlichung: 28. Januar 2026
Erteilung: 28. Januar 2026
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/26G02B21/34G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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